ROHS檢測儀之XRF的原理詳解
X射線定義:
l X射線是一種波長較短的電磁輻射,通常是指能量范圍在0.1-100KeV的光子.X射線與物質的相互作用主要有熒光.吸收.散射三種。X射線的熒光物質中的組成元素產生特征輻射,通過測量和分析樣品產生的X射線熒光,即可獲得樣品中的元素組成,得到物質成分的定性和定量信息.
l X射線光譜儀通常可分為兩大類:波長色散(WDXRF)和能量色散(EDXRF)X射線熒光光譜儀.
l X射線熒光分析技術的缺點是檢出限不夠低,不適于分析輕元素,依賴標樣,分析液體樣品手續(xù)比較麻煩.由于電感耦合等離子質譜儀(ICP-MS)具有的痕量.超痕量分析能力.因此目前國內外分析實驗室一種流行的趨勢是同時配備X射線熒光光譜儀和電感耦合等離子質譜儀(ICP-MS).利用XRF分析含量較高的元素,而用ICP-MS分析低濃度的元素.
X熒光的基礎知識
由于K層電子與L/M層電子能量不同,補位電子會釋放出多余能量,該能量的表現形式為X熒光(躍遷)。此熒光可被探測器接受測量并可反映出元素的具體信息。經過分析后zui終獲得元素種類及組成比例的信息。
當X光束照射到測試樣品上,受照射區(qū)域物質的組成元素的內層電子,會應受到X光轟擊溢出,為保持其內部平衡,該原子L層或M層的外層電子會補充這個電子空位。
特征X射線的產生機理
l 同樣當K空位被M層電子填充時,則產生Kβ輻射。M能級與K能級之差大于L能級與K能級之差,即一個Kβ光子的能量大于一個Kα光子的能量; 但因L→K層躍遷的幾率比M→K遷附幾率大,故Kα輻射強度比Kβ輻射強度大五倍左右。
l 顯然, 當L層電子填充K層后,原子由K激發(fā)狀態(tài)變成L激發(fā)狀態(tài),此時更外層如M、N……層的電子將填充L層空位,產生L系輻射。因此,當原子受到K激發(fā)時,除產生K系輻射外,還將伴生L、M……等系的輻射。除K系輻射因波長短而不被窗口*吸收外,其余各系均因波長長而被吸收。
l Kα雙線的產生與原子能級的精細結構相關。L層的8個電子的能量并不相同,而分別位于三個亞層上。Kα雙線系電子分別由LⅢ和LⅡ兩個亞層躍遷到K層時產生的輻射,而由LI亞層到K層因不符合選擇定則(此時Δl=0),因此沒有輻射。
X射線熒光
光譜學上的“熒光”:泛指物質受到外來的原級輻射照射時,物質發(fā)出的次級輻射,波長(能量)在X射線范圍的熒光叫X射線熒光。不僅X射線可以產生熒光,可見光、紫外線也可以產生熒光。
ROHS檢測儀的價格差異主要取決于以下幾個因素:
1. 品牌和制造商:知名品牌和專業(yè)制造商生產的ROHS檢測儀通常價格較高,但具有更可靠的性能、技術支持和售后服務。
2. 功能與特性:不同型號的ROHS檢測儀可能具有不同的功能和特性,如測試范圍、精度、分辨率等。更高級別或多功能的設備往往價格更高。
3. 技術水平:先進的技術會使設備成本增加,例如更精密且穩(wěn)定的探測器、更快速和準確的分析算法等。
4. 采樣方式:ROHS檢測儀可以通過不同方式進行采樣,如無損傷采樣或破壞性采樣。破壞性采樣需要額外耗材并且可能導致成本上升。
5. 數據處理軟件:一些ROHS檢測儀配備了強大且易于使用的數據處理軟件,并提供數據管理及報告生成功能。這些附加功能會影響設備價格。
6. 國家/地區(qū)規(guī)格要求:某些國家或地區(qū)對ROHS認證有特殊要求,為了符合這些要求,相應的ROHS檢測儀可能需要進行定制或適應調整,從而影響價格。
需要注意的是,較低價格并不一定意味著質量差。在購買ROHS檢測儀時,建議根據實際需求和預算綜合考慮以上因素,并選擇具有良好性能和可靠品牌支持的設備。